MentorGraphics公司（納斯達克代碼：MENT）今天宣布推出全新Calibre®xACT™寄生電路參數提取平臺，該平臺可滿足包括14nmFinFET在內廣泛的模擬和數字電路參數提取需求，同時最大限度地減少IC設計工程師的猜測和設置功夫。CalibrexACT平臺可借由自動優化電路參數提取技術，針對客戶特定的工藝節點、產品應用、設計尺寸大小及電路參數提取目標，實現精準度和周轉時間(TAT)的最佳組合。采用CalibrexACT平臺進行電路寄生參數提取在滿足最嚴格的精準度要求的同時，還讓客戶體驗到了減少高達10倍的周轉時間。

Samsung在用于14nm技術的CalibrexACT平臺的開發和認證方面與Mentor Graphics有著廣泛的合作，并憑借該平臺的高精準度性能將其應用于技術開發。

CalibrexACT產品能夠將單個規則檔案應用于一系列電路參數提取應用，使客戶能夠兼顧精準度和快速TAT(TurnAroundTime)，且無需手動修改其規則檔案或工具配置。

“我們在對領先的電路參數提取產品進行了仔細的基準檢驗后，選擇了將CalibrexACT作為簽核電路參數抽取工具標準并應用到我們所有的新一代設計中，”CypressSemiconductor公司CAD總監DragomirNikolic說道。“包括在90nm和65nm制程節點上的產品。我們發現，在眾多目標在最尖端工藝節點電路參數提取產品中，CalibrexACT可提供高精準度和快速周轉時間的最佳組合。此外，我們也看到CalibrexACT電路參數提取工具有能力在各種各樣的應用（從晶體管級別到全芯片數字電路參數提取）中產生最佳結果，這種能力是非常有價值的。”

在整個設計周期內，電路設計工程師必須在性能和精準度之間權衡取舍。寄生電路參數提取也不例外。在使用較為復雜的FinFET組件的先進工藝節點上，設計工程師始終致力于追求更為嚴苛的精準度，也需要更高的性能和容量來實現十億級晶體管設計。事實上，在現代IC中，所有制程節點都隨著內存、模擬電路、標準單元庫以及客制化數字內容的混合變得日益復雜。這種復雜性為電路參數提取工具帶來了一系列不同的挑戰。為了應對這些挑戰，CalibrexACT平臺將精簡模型、解電磁場技術(FieldSolver)以及高效的多CPU擴展(scaling)技術融為一體，以確保實現有可靠精準度并滿足計劃所要求的期限。

CalibrexACT電路參數提取平臺與整個Calibre產品線整合，實現了無縫驗證流程，其中包括用于完整晶體管級模型的CalibrenmLVS™產品，以及用于針對極高精準度電路參數提取應用的CalibrexACT3D產品。此外，它還納入了第三方設計環境和格式，以確保與現有的設計和仿真流程相兼容。

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