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GE檢測控制參加蘇州2012傳感器MEMS國際會議

時間：2012-09-06

來源：GE檢測控制技術

導語：GE檢測控制技術參展2012傳感器與MEMS國際會議（CHInano2012）,期待蒞臨指導！

2012傳感器與MEMS國際會議，將于2012年9月13日-14日在江蘇蘇州獨墅湖會議酒店隆重召開。GE檢測控制技術將在本屆展會上首次參與行業盛會 (展位8號)，展示GE 在MEMS 領域的優秀產品和領先技術。

在此次展覽會上，GE檢測控制技術重點展出新一代MEMS擴散硅壓力傳感器及其應用。這些產品以其領先的高科技技術為汽車、醫療、過程控制等行業客戶提供更環保，更智能，更高效的解決方案。

在展會期間，GE檢測控制技術通過產品介紹、樣品展示和觀眾互動交流等諸多方式，充分為與會者展示GE檢測控制技術相關產品應用和先進技術。屆時，我們的工程師和產品經理將為您作現場講解和演示進行現場交流。

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