產品介紹：

　　表面掃描激光共焦位移計

　　•高精度表面掃描方式

　　•0.3μm的出色分辨率

　　•快速輕松的設置功能

　　•適用于各種應用的多種測量模式

　　Z軸掃描:對音叉運用共焦原理，實現高精度測量。X軸掃描:振蕩模塊產生巨大的掃描區域。實現更高的測量穩定性。

　　產品特性

　　高精度表面掃描方式

　　高精度表面掃描方式可測量各類目標

　　Z軸掃描

　　0.3μm的出色分辨率實現高精度應用

　　X軸掃描

　　大范圍掃描功能增強了測量的穩定性和多樣性

　　快速輕松的設置功能