TT230涂層測厚儀 北京時代TT230涂層測厚儀是一種超小型的測量儀。時代TT230涂層測厚儀能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。TT230測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。TT230氧化膜測厚儀體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。 TT230測厚儀 的主要技術指標　 　　測量原理：渦流法 　　測量范圍：1～1250μm 　　測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準） 　　　　　　　±[（1～3）%H+1.5] μm（二點校準） 北京時代TT230涂層測厚儀 的主要功能 　　可進行零點校準及二點校準。 　　可對測頭進行基本校準。 　　設有五個統計量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO）、標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。 　　具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。 　　自動關機功能。 　　刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量。 　　操作過程有蜂鳴聲提示。 　　有欠壓指示功能。 　　有錯誤提示功能。