智泰 SIS系列白光干涉儀
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詳細描述
1 、非接觸式測量:避免物件受損。
2 、三維表面測量:表面高度測量范圍為 1nm ——-200μm。
3 、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換。
4 、納米級分辨率:垂直分辨率可以達到0.1nm。
5、高速數字信號處理器:實現測量僅需要幾秒鐘。
6 、掃描儀:采用閉環控制系統。
7、工作臺:氣動裝置、抗震、抗壓。
8 、測量軟件:基于windows 操作系統的用戶界面,強大而快速的運算。

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