FV-pixellence適合于以LCD為代表的平面面板的點燈檢測，玻璃、膠片、金屬等平面的瑕疵、污垢檢測等，是平面對象物體表面檢測最適合的圖像處理系統。利用FAST獨特的圖像處理技術，可檢出低對比度的缺陷及Shimi、Mura缺陷。也可以用高像素攝像頭、線掃描（line scan）攝像頭或彩色攝像頭作顏色缺陷檢測。利用Windows GUI的手動操作（半自動操作）,與PLC等外部控制器連接操作（機械操作），結合其他周邊配件組成系統（系統操作）或使用多臺FV-pixellence可進行分散處理（多臺操作）。 1.平面面板的綜合缺陷檢測 2.LCD、PDP的點、線Shimi、Mura缺陷檢測 3.OLED的點燈檢測 4.玻璃、膠片的瑕疵、污垢檢測 5.金屬表面的瑕疵缺陷檢測 6.其他平面物體的Shimi、Mura缺陷檢測 特色 1.在灰度變化下的背景可穩定檢測出缺陷 2.穩定檢出低對比度缺陷。（比如以256灰階為單位時，背景和缺陷灰階差異為10也可） 3.根據所登錄的缺陷，可以設定檢測標準 4.應用彩色攝像頭或光學濾鏡可以做彩色缺陷檢測 5.格子等重復背景圖案在前處理時可清除以便檢測